2011年10月12-15日，两年一届的BCEIA在北京展览馆如期举行。帕纳科作为X射线分析仪器市场领袖，在此次分析仪器展览盛会上展示了多款新品，并由帕纳科应用团队亲临现场，为观众讲解帕纳科先进的X射线分析仪器技术。

刚刚在欧洲赢得R&D100 2011大奖的Empyrean锐影X射线衍射系统，以其全面的分析范围、广泛的应用领域、和3D 分析能力而备受瞩目。应用最新ZETA技术的WDXRF——AxiosmAX，光管功率无衰减，延长了光谱仪核心配件的使用寿命，无论在工业领域还是科研领域都有良好的表现。2011年最新发布的、具有优异的轻元素分析性能的台式能量色散荧光光谱仪E3，分析范围扩展到氟（F）元素，吸引了众多业界的目光。

此次展会共有300多位观众光临了帕纳科展位，并咨询了相关产品信息，部分用户对产品表现出浓厚兴趣。帕纳科在展会同期举办了两场X射线分析仪器技术交流会，共计60多名观众到场参与，帕纳科亚太区XRF产品经理Lieven Kempenaers博士和帕纳科中国区业务发展经理吴彦分别为大家介绍了最新EDXRF——E3和帕纳科锐影衍射系统和3D探测器，得到与会者的一致好评。

帕纳科展位

XRD专家正在给用户讲解Empyrean锐影X射线衍射系统

技术交流会现场

帕纳科中国区总经理薛石雷接受采访