先驱时期
1895 —— 伦琴（Wilhelm Conrad Rontgen）发现了X射线
1896 —— 缪勒（Carl Muller） 在德国的汉堡生产了第一支X射线光管
1912 —— 劳厄（Max von Laue） 发现了晶体X射线衍射（XRD）????????
　　　　　布拉格（Bragg）父子发展并完善了X射线衍射（XRD）理论
1913 —— 亨利、莫赛莱（Henry Moseley） 找到了原子序数与X射线波长
　　　　　 之间的关系
1917 —— 飞利浦公司开始在爱因霍温（Eindhoven）制造并维修X射线光管
1922 —— 飞利浦公司取得了玻璃与金属相结合的安全X射线光管的专利权
1923 —— 西格班（Karl Siegbahn）奠定了X射线荧光光谱（XRF）实践的
　　　　　 理论基础

推进安全工艺技术
1924 —— 飞利浦公司创造了名为 ”MetaliX” 的金属X射线光管，是世界上第一根有防辐射线保护的X射线光管
1927 —— 飞利浦公司全面接收了位于汉堡的Carl Muller的X射线光管工厂
1931 —— “MetaliX”装置以其“精细结构研究”使X射线衍射系统得以第一次运用于商业用途

Norelco, 一个成功的范例
1945 ——飞利浦公司研发出了X射线衍射仪和盖革计数管（Geiger-Muller）的应用
1948 —— 世界上第一台名叫“Norelco”的商用X射线衍射仪投放市场
1954 —— 随着PW1050－X射线衍射仪的发展与PW1520组合出了世界第一台实用X射线荧光光谱仪

两个供应中心
1972 —— 飞利浦公司X射线分析仪器的制造、研发和市场部门迁往荷兰的阿尔默洛（Almelo）
1973 —— 飞利浦公司在荷兰的爱因霍温（Eindhoven）开设了新的X射线光管生产厂
1975 —— 随着PW1600同时式X射线荧光光谱仪的引入，使28种以上的元素可以同步分析检测
1976 —— 随着微处理器控制的PW1400 X射线荧光光谱仪的引入，飞利浦公司使X射线分析成为了一种常规检验手段
1984 —— PW1840台式粉末衍射仪为操作者提供了经济的、可靠的X射线分析设备
1986 —— 随着PW1800封闭式粉末X射线衍射仪的引入，飞利浦公司将X射线衍射技术带入工业分析领域
1988 —— PW1880――第一台多功能衍射仪，满足了宽范围X射线衍射应用的需求

崭新一代的产品家族诞生
1990 ——飞利浦分析仪器（Philips Analytical）推出基于光学编码定位技术（DOPS）测角仪的X’Pert XRD 系列产品
1992 ——飞利浦分析仪器（Philips Analytical）推出新一代X射线荧光光谱仪——PW2400和PW2600
1996 —— MiniPal 和MiniMate的诞生，标志着飞利浦分析仪器（Philips Analytical）从此进入了能量色散型X射线荧光光谱（EDXRF）的市场
1999 —— X’Pert PRO MPD 和 MRD，与预校准光路技术（PreFIX）同时发布
2001 —— 飞利浦分析仪器（Philips Analytical）推出了屡获嘉奖的超能探测器（X’Celerator）

未来属于帕纳科
2002 —— 飞利浦分析仪器（Philips Analytical）更名为荷兰帕纳科公司（PANalytical）
2003 —— 荷兰帕纳科公司（PANalyitcal）较以前引入更多创新的系统、软件和相应的附件
2006 —— 位于世界各地的850名员工专注于为您所需的材料特征分析提供正确的解决方案